【卖】WABX-H变压器绕组变形测试仪，变压器绕组变形测试仪

WABX-H变压器绕组变形测试仪（即频谱测量仪，以下简称测试仪）是武汉伟奥三高电气专为检测变压器绕组变形情况研制开发的专用设备。本设备采用频率响应分析法（FRA），根据变压器线圈的频率响应图谱进行变形分析。由于我所研发人员具有丰富的现场经验和对变压器内部结构的深入研究，研制开发的HTBX-H测试仪对变压器线圈变形的测量具有很强的针对性，是目前国内用于检测变压器线圈变形的综合性能最先进的设备之一。
　　一:技术规范
1.　　安全使用工作条件
最高环境温度：-10℃ -40℃
最大相对湿度：90%
电源电压：200～240V
承受系统地网电位变化耐受值为：2000V/min
2.　　技术参数
扫描测量频带：0.5kHz～1MHz
测量点数：　　2000点
扫频范围分为4级：
0.5～10kHz　　 频点密度：20Hz/点
10～100kHz　　频点密度：200Hz/点
100～500kHz　 频点密度：0.8kHz/点
500～1000kHz　频点密度：1.0kHz/点
扫描测量电压：≥8V(p-p)　(0.5kHz～500kHz)