【卖】双电测四探针测试仪

特点/规格
　　

*.采用了四探针双位组合测量新技术，将范德堡测　 量方法推广应用到直线四探针上，利用电流探针　 电压探针的变换，在计算机控制下进行两次电测　 量，把采集到的数据在计算机中加以分析，自动　 消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和　 机械游移等因素对测量结果的影响，然后以表格　 图形方式统计分析显示测试结果；
*.适用晶片尺寸：2"～12"(选配探针台)；
*.测量范围 - 电阻率：10-4～105 Ω·cm(可扩展)
　　　　　 方块电阻：10-3～106 Ω/□(可扩展)
*.可测晶片厚度：≤3.00mm
配置
　　
四探针测试仪主机、S-2A型探针台、FT-201四探针探头、测试软件(含测控模块)
　　
配置 　　
四探针测试仪主机、S-2A型探针台、FT-201四探针探头、台式电脑
　　
配置 　　
四探针测试仪主机、S-2A型探针台、FT-201四探针探头、IBM笔记本电脑
　　
备注
　　
用户可按实际需要选择配置，电脑可按用户要求以市场价配置或自行购置安装测试软件即可