【卖】薄膜,纸张测厚仪

薄膜,纸张测厚仪用于量程范围内的塑料薄膜、薄片等各种材料厚度的精确测量
薄膜,纸张测厚仪技术参数
测量范围：0～2㎜（0～6㎜可选）
分 辨 率：0.1μm
测量压力：17.5±1kPa(薄膜); 　标准配置
50±1kPa（纸张）　可选配置
接触面积：50㎜2(薄膜); 标准配置
200㎜2（纸张）可选配置
自动进样间距：0～1000㎜
自动进样速度：0.1～99.9㎜/s

薄膜,纸张测厚仪执行标准
GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO4593、ISO534、ISO3034、DIN53105、DIN53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS3983、BS4817
联系方式：宋友良（销售部） 电话：020-81320437 传真：020-81093749 邮箱：gz05@labthink.cn