【卖】薄膜测厚仪

薄膜测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

薄膜测厚仪符合的标准GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817。

薄膜测厚仪的特性

1.微电脑控制、液晶显示
2.菜单式界面、PVC操作面板
3.接触式测量
4.测头自动升降
5.手动、自动双重测量模式
6.数据实时显示、自动统计、打印
7.显示最大值、最小值、平均值和统计偏差

薄膜测厚仪的技术参数

测量范围：0～2mm（常规）
　　　　　0～6mm；12mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量速度：10次/min（可调）
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制


薄膜测厚仪的别称：测厚仪，塑料薄膜测厚仪，纸张测厚仪，薄片测厚仪。

欲了解薄膜测厚仪详情，请电021-62351756济南兰光机电技术有限公司（上海）代表处 董方春。