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MCP-PD51粉体阻抗测定系统特色用途：

1、用于研究开发、质量管理第一线，执行粉体之物性管理

2、与阻抗率计(MCP-T610),Hiresta-UP(MCP-HT450)连接，以测定广范围之粉体之低阻抗、高阻抗
3、样品的交换、清扫简单、可采一触式着离探头
4、各种粉体的形状，粒径分布之不同依压力依存性把握其阻抗率及压缩容积测定及数据、备有达执行　　图形化之软件以供选购


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